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SiC Camera Lab

成像质量分析工作站安全守门人

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SiC TDI 图像成像性能与分析工具箱门户

集成离线即时交互分析、自动化诊断对比报告及底层物理原理解析,为您提供一站式半导体 AOI 相机选型与质量诊断评估工作站方案。

Portal V4.2 (更新于:2026-05-27 08:50)
腾讯云服务状态 42.194.229.55 : 200 OK
客户端安全锁配置 SHA-256 HASH LOCK : 激活
WebDAV 备份脱敏 PRIVATE KEYS : 100% 隔离
成像处理架构 纯本地零负荷 Widescreen SPA
离线即插即用交互式分析工作站(直接双击浏览器打开)
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多维度成像参数静态对比工作站

V3.20 · 更新于 2026-05-27 23:48

适合全面对比!直接拖拽两台相机的暗场、无缺陷、缺陷和重复性图像。纯 JS 离线实现多张重复性拟合 CV 计算、手/自动 CNR 以及 Bad pixels 亮点坏点统计。集成三大 ECharts 分析图表。

ECharts 稳定性图 缺陷 CNR 柱图 Bad points 提取 自动位深推断
进入分析工作站
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晶圆分块拼接与缺陷检测工具

V4.1 · 更新于 2026-05-27 08:40

集成拼接与物理探伤!支持按文件名行列正则将分块图自动还原拼接,并支持自适应代数圆拟合晶圆实际边界、内缩厚度控制、明/暗场单通道自适应缺陷检测。新增双层 Canvas 高清滚轮缩放、微米级切片对比与 ECharts 分块热力图。

晶圆边缘圆拟合 明/暗场缺陷检测 双层 Canvas 探索 缺陷 ECharts 热力图
进入拼接工作站
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晶圆明/暗场缺陷检测对比工具

V1.2 · 更新于 2026-05-27 08:45

同时导入明场(Bright Field)和暗场(Dark Field)分块图,自动拼接为完整晶圆图后,分别执行自适应阈值缺陷检测。支持缺陷叠加热力图、并排对比视图、缺陷密度分布图,以及明暗场检出能力量化对比分析。

明暗场双通道 自适应阈值检测 缺陷热力叠加 检出能力对比
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极简平场拉平与空间 SNR 对比工作站

V2.1 · 更新于 2026-05-27 08:40

现场限制仅能提供每台相机的一张平场图和一张 Raw 图时使用。浏览器端拖拽极速拉平,采用 ECharts 绘制 100 阶剖面 Shading 衰减均值线,以及三区(左/中/右)局域高频物理信噪比分布柱图。

1D 均值剖面线 32x32 局域 SNR Shading 对比 零安装 TIFF 支持
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自动化 Python 诊断对比报告仪表盘(由后台脚本生成)
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相机多维成像静态对比完整报告

报告生成于 2026-05-26

展示 Camera A vs B 完整静态选型对比结果的交互式报告。包含 1D 水平灰度剖面分布曲线,以及全局/局域/时序时间三维信噪比柱状图(完全排除了晶圆物理材质纹理干扰),提供最终相机的权威物理选型推荐。

时序时间 SNR 1D 分箱均值线 自动打分选型 高端石板蓝 Dashboard
查看诊断报告
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极简平场均匀性分析报告

报告生成于 2026-05-26

展示单一平场及 Raw 图校正的精简对比结果。可直观对比简易平场校正前后的 1D 光强平坦度变化曲线、Std 空间噪底改善率以及三段(左/中/右)局域高频信噪比分布趋势。

Std 改善率 局域高频 SNR 拉平对比线 高端石板蓝 Dashboard
查看均匀性报告
选型理论知识库
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信噪比与平场物理原理解析

知识文档 · 持续更新

深入阐述“为何平场校正不改变物理噪底”、“光子散粒噪声的平方根定律”以及“为什么低光照处平场会导致噪声倍增”等相机底层传感物理机制,提供公式化的排查诊断依据。

光子散粒噪声 平方根定律 平场数学公式 读出噪声极限
查看原理解析 (Obsidian/IDE)
SYSTEM DIAGNOSTICS MONITOR v2.4.0