🔬 晶圆明/暗场拼接与缺陷检测对比工具

导入明场 (Bright Field) 和暗场 (Dark Field) 分块图,自动拼接、检测缺陷并对比两种成像模式的缺陷检出能力。

Wafer Inspector V1.2 (更新于:2026-05-27 08:45)

1. 导入分块图像

🔆 明场 (Bright Field)

未导入明场图。

🌑 暗场 (Dark Field)

未导入暗场图。
请导入至少一组明场或暗场图像。